首頁 >
檢測中心 >
功率器件 >
材料 >
少子壽命測試
設(shè)備：外延片少子壽命測試儀WT-2000 Wafer Test System
廠商：匈牙利 SEMILAB
用途：1.厚外延少子壽命測試2.SiC電阻率測試
技術(shù)指標(biāo)：少子壽命測試要求外延厚度>30um；規(guī)則樣品寬度>10mm 可以點(diǎn)測或連續(xù)面測
?
进贤县|
蕉岭县|
聊城市|
商洛市|
景谷|
晋州市|
琼海市|
化隆|
中山市|
万安县|
舟曲县|
综艺|
麻江县|
永年县|
汉阴县|
黑水县|
洛扎县|
江都市|
郧西县|
河北省|
融水|
廊坊市|
石河子市|
延庆县|
广德县|
来凤县|
西吉县|
镇平县|
衡南县|
广州市|
贡嘎县|
平顺县|
平顺县|
奉新县|
名山县|
邮箱|
肇庆市|
景东|
莒南县|
玛纳斯县|
乌拉特中旗|
